全自動介電常數(shù)介質損耗測試儀
工控摘要：介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法。
一、介電常數(shù)介質損耗試驗儀概述
GDAT高頻Q表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。
主要技術特性
Q值測量范圍2～1023，量程分檔：30、100、300、1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差≤5％±滿度值的2％（200kHz～10MHz），≤6％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差≤7％±滿度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍4.5nH～140mH
電容直接測量范圍1～200pF
主電容調節(jié)范圍18～220pF
主電容調節(jié)準確度100pF以下±1pF；100pF以上±1％
信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz
頻率分段（虛擬）100～999.999kHz，1～9.99999MHz,10～99.9999MHz，100～160MHz
頻率指示誤差3×10-5±1個字
平板電容器：極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2.夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3.夾具損耗正切值≤4×10-4（1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
電感：
線圈號測試頻率Q值分布電容p電感值
9100KHz989.425mH
8400KHz13811.44.87mH
7400KHz202160.99mH
61MHz19613252μH
52MHz1988.749.8μH
44.5MHz231710μH
312MHz1936.92.49μH
212MHz2296.40.508μH
125MHz，50MHz233，2110.90.125μH
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