電壓擊穿試驗儀試驗結(jié)果反映出什么問題呢？
為什么要進行電壓擊穿測試：
電介質(zhì)強度測試亦稱hipot測試大概是zui多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線安全測試。實際上，表明它的重要性是每個標準的一部分。hipot測試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個非破壞性的測試。這是適用于所有設(shè)備為保證絕緣材料是足夠的的一個高壓測試。進行hipot測試的其它原因是它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。進行型式測試的時候hipot測試是在某些測試（譬如失效潮態(tài)及振動測試）之后進行來確定是否因為這些測試造成絕緣的退化。但是，日常生產(chǎn)進行的hipot測試是制造過程中的測試來確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)是與型式測試所用產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)相同。電壓擊穿試驗儀一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過在線hipot測試檢查出來，例如變壓器繞組電氣間隙和爬電距離小。這樣的故障可能起因于繞線部門的一名新操作員。其它例子包括檢查絕緣材料的針孔瑕疵或發(fā)現(xiàn)一個過大的焊點。大多數(shù)安全標準使用2xU+1000V的慣例作為基本的絕緣材料測試的依據(jù)這里的U是操作電壓（rms值）。這個慣例僅僅作為一個指導對于個別標準特別是IEC60950提供了一個具體的表格來定義根據(jù)測量到的實際工作電壓來確定確切的測試電壓
1.至于使用1000V作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過電壓。實驗和研究表示這些過電壓通常高達1000V。測試方法：高壓通常是應用的在橫跨被測試絕緣材料的二個部件之間譬如測試設(shè)備（EUT）的一次側(cè)電路（PrimaryCircuit）和金屬外殼。如果絕緣材料在兩個部件之間是足夠的那么加在兩個由絕緣體分離的導體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過絕緣體。雖然這個小電流是可接受的但是空氣絕緣或固體絕緣不應該發(fā)生擊穿。因此需要注意這個電流是因為局部放電或擊穿的結(jié)果而不是由于電容聯(lián)結(jié)引起的。
擊穿電壓：高分子材料在一定電壓范圍內(nèi)是絕緣體，當在材料上施加的電壓逐漸增加，致使材料zui薄弱點失去絕緣能力而產(chǎn)生電弧材料被破壞。此時的zui大電壓稱為擊穿電壓。我們把擊穿電壓和此時材料的厚度比稱為介電強度也稱為電氣強度。
介電強度：試樣擊穿時，單位厚度承受的擊穿電壓值，單位為kv/mm或Mv/m。有時也稱為電氣強度或擊穿強度。通常介電強度越高，材料的絕緣質(zhì)量越好。介電強度是表征了材料所能承受的zui大電場強度，是高聚物絕緣材料的一項重要指標。
塑料的電擊穿機理：介電擊穿機理可分為電擊穿、熱擊穿、化學擊穿、放電擊穿等，往往是多種機理綜合發(fā)生。通常把不隨溫度變化的擊穿稱為電擊穿，把隨溫度變化的擊穿稱為熱擊穿。熱擊穿的外部表現(xiàn)是介電強度隨溫度升高而迅速下降，與施加電壓作用的長短有關(guān)；與電場中產(chǎn)生的熱量大于它能散熱的熱量，使其內(nèi)部溫度不斷升高。溫度升高導致其電阻下降，流經(jīng)試樣電流增大，產(chǎn)生的熱量更多，如此循環(huán)不已，致使介質(zhì)轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪环N聚焦態(tài)，失去耐電壓能力，材料被破壞。電擊穿的特點是介電強度與周圍介質(zhì)的電性能有關(guān)；擊穿點常常出現(xiàn)在電極邊緣其至電極以外。
媒質(zhì)電性能影響；高壓擊穿試驗往往把樣品放在一定媒質(zhì)（如變壓器油）中，其目的是為縮小試樣尺寸防止飛弧。但媒質(zhì)本身的電性能對屬于電擊穿為主的材料有明顯影響，而以熱擊穿為主的材料影響極小，故標準中對奧球油的擊穿電壓VB＞=25kv/2.5mm。
電壓擊穿試驗儀技術(shù)指標：
01、輸入電壓： 交流 220 V
02、輸出電壓： 交流 0--100 KV ;
直流 0—100 KV
03、電器容量： 10KVA
04、高壓分級： 0-100KV
05、升壓速率：0.01-5.0kv
電壓擊穿試驗儀滿足標準：
GB1408-2006 GB/T1695-2005 GB/T3333 HG/T3330 /GB12656 /ASTM D149 .
GB1408-2006 絕緣材料電氣強度試驗
GB/T1695-2005 硫化橡膠工頻電壓擊穿強度和耐電壓強度試驗
GB/T3333 電纜紙工頻電壓擊穿試驗
HG/T 3330絕緣漆漆膜擊穿強度測定
GB12656 電容器紙工頻電壓擊穿試驗
ASTM D149 固體電絕緣材料在工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強度試驗
標簽：
電壓擊穿試驗儀
介電擊穿強度試驗儀
耐電壓強度擊穿試驗儀
